52400e - Carte PXI Express, Source Mesure (SMU) haute précision

Les cartes de la série Chroma 52400e sont des cartes SMU (Source Measurement Unit), basées sur PXIe, conçues pour une simulation de source ou de charge très précise avec des mesures de tension et de courant de précision.

Le SMU combinent le fonctionnement à quatre quadrants avec la précision et la mesure à grande vitesse. Cela fait du SMU un instrument idéal dans de nombreuses applications de test paramétrique allant des IC, des composants à deux conducteurs comme les capteurs, les diodes électroluminescentes, les diodes laser, les transistors, les cellules solaires, les batteries et de nombreux autres appareils électroniques.

Les caractéristiques de la série 52400e: 16 largeurs de bande de contrôle sélectionnables pour assurer une sortie à haute vitesse et un fonctionnement stable; De multiples sources/gammes de mesure avec un DAC/ADC 18 bits pour fournir la meilleure résolution et précision possible avec une fréquence d’échantillonnage allant jusqu’à 100 Ke /s; Résistance série interne programmable pour la simulation de batterie; ± force, ± sens et ± garde les lignes pour éviter le courant de fuite et réduire le temps de décantation – particulièrement utile pour les applications de test à faible courant.

La série 52400e a un séquenceur matériel breveté qui utilise un timing déterministe pour contrôler chaque SMU. La mémoire embarquée du séquenceur peut enregistrer jusqu’à 65535 commandes de séquence et 32 k échantillons de mesure par canal, parallèlement à la synchronisation du module et à la commande et à la mesure de sortie sans latence. Aucune communication PC n’est requise pendant l’exécution du processus de test du séquenceur matériel.

Les API C, C #, LabView, LabWindows et les SFP (soft front panel)  sont livrés en standard avec chaque SMU. Les connecteurs arrière sont compatibles avec les deux châssis PXIe et hybride. Toutes ces caractéristiques permettent une intégration facile aux systèmes PXIe ou PXI-hybrides conçus pour une large gamme d’applications.