Répondre aux besoins de test pour tous les types de composants semi-conducteurs
L’avancée des technologies des semi-conducteurs pousse le monde à changer. C’est le moment où l’intelligence artificielle rencontre la 5G, où les voitures autonomes et l’analyse des données volumineuses regroupent toutes leurs données dans un appareil portable. Les systèmes de test de semi-conducteurs doivent être transformés en une nouvelle ère où toutes sortes de fonctionnalités doivent être intégrées dans un système minuscule. La plate-forme émergente PXIebased fournit une bonne voie viable pour répondre aux besoins de la nouvelle ère. Les solutions de test de semi-conducteurs PXIe de Chroma offrent à nos clients un lieu de travail polyvalent pour compléter le test de semi-conducteurs tout en intégrant des modules d’instruments fonctionnels de différents fournisseurs.
La première carte PXIe pour tous vos besoins autour de carte de Charge Electronique
Les cartes de charge sont les composants électroniques d’interface les plus importants dans les systèmes de test de semi-conducteurs. Pour répondre aux différents besoins des applications, une large gamme de composants peut être ajoutée à la carte de chargement pour éventuellement allumer un voyant d’alimentation, simuler l’environnement d’application réel, multiplexer pour des considérations de coût ou même enregistrer les sorties du périphérique pour les données. des fins de journalisation. La carte de contrôle de relais universel Chroma 33011 vous donne tout ce qui peut être mis en œuvre sur la carte de chargement avec des relais de contrôle, des ensembles de sources CC, des canaux SPI et des signaux de déclenchement. Les utilisateurs n’auront pas besoin d’acheter plusieurs cartes PXIe ni d’occuper des ressources de test rares pour gérer les besoins sur le tableau de chargement. Cela permet d’économiser davantage d’emplacements PXIe, tels qu’un nombre de sites supérieur pour davantage de sorties.
Logiciel propriétaire, CRAFT et autres fonctionnalités avancées de support logiciel
En plus de prendre en charge les environnements LabView et LabWindows, Chroma fournit une suite logicielle propriétaire, CRAFT. CRAFT, fonctionnant sous le système d’exploitation Microsoft Windows, contient l’ensemble complet d’outils permettant de tester les semi-conducteurs depuis le développement, le débogage, la production et la maintenance de programmes de test. Les outils de production comprennent un logiciel d’interface graphique simple à utiliser, tel que l’interface opérateur, la sortie des données de test, le contrôle du séquencement et du binning, la carte des tranches, l’outil de synthèse et les pilotes d’ensembles / testeurs d’ensembles enrichis. Les outils de débogage utilisateur incluent Datalog, Plan Debug, TCM, Shmoo, Editeur de modèle, Waveform, etc. Ils prennent également en charge les environnements LabView et LabWindow et un sous-ensemble d’outils de débogage est fourni. En outre, un outil tiers de conversion de modèle CAD / ATE est également pris en charge pour couvrir les conversions WGL / STIL / VCD / EVCD.
